I/O耦合EMI计算器

高频信号可以耦合到I/O网，将耦合的能量从板上带走。连接到I/O网的电缆上感应的共模电流会导致显著的辐射发射。建立了一个封闭形式的表达式来估计[1]的最大辐射排放量。下面计算所使用的算法在[2]中有描述。

俯视图

侧视图
俯视图 侧视图
董事会
长度(l) =毫米 宽度(W) =毫米
介电常数(εr) =

痕迹
宽度(一个) =毫米 距离(年代) =毫米
高度(t) =毫米
接头长度(l耦合) =毫米
I/O线长(l跟踪) =毫米
电路终端
Rl＝欧姆 R不＝欧姆

电压源
振幅一个)： V
频率较低(f0)： 兆赫
频率较高(f1)： 兆赫

C. Su和T. Hubing， "利用不平衡差分法计算印刷电路板上I/O线耦合引起的辐射辐射，"IEEE反式。有关电磁兼容，第54卷，no。2012年2月1日，第212-217页。

[2]朱宏斌，“最大辐射发射计算机:I/O耦合算法”，cvel - 13 - 0452013年8月24日。

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